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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展首頁-產(chǎn)品展示--LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀-LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀
產(chǎn)品型號:LIBS
簡要描述:LIBS-激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀將目視檢驗(yàn)和定性化學(xué)檢驗(yàn)組合在一個(gè)工作步驟中,與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗(yàn)相比, 測定微觀結(jié)構(gòu)成分的時(shí)間可節(jié)省 90%。
廠家實(shí)力
Manufacturer Strength有效保修
Valid Warranty質(zhì)量保障
Quality Assurance產(chǎn)品中心
PRODUCT CATEGORY詳細(xì)介紹
LIBS-激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀
將目視檢驗(yàn)和定性化學(xué)檢驗(yàn)組合在一個(gè)工作步驟中,與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗(yàn)相比, 測定微觀結(jié)構(gòu)成分的時(shí)間可節(jié)省 90%。集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)針對您在顯微鏡中看到的材料結(jié)構(gòu)提供準(zhǔn)確的化學(xué)元素圖譜。
用于目視和化學(xué)分析的二合一系統(tǒng)
1 秒即可獲得化學(xué)元素圖譜
無需樣品制備
完成!
只需一次單擊,即可準(zhǔn)確檢查通過目鏡或攝像頭觀察的物質(zhì),從而快速簡單的識別和解釋。操作員不需要額外的專業(yè)知識。
作為一家中型公司中的hou起之秀,我們認(rèn)為有必要擴(kuò)展我們的內(nèi)部分析方法。我們決定使用DM6 M LIBS 材料分析解決方案,是基于其多功能性和易用性。我們的目標(biāo)是能夠輕松地進(jìn)行光學(xué)檢查,地形表面評估,和定性分析。
這一儀器現(xiàn)已使用一年多,我們可以肯定地說,我們的期望得到了充分滿足。其多功能性和迅速的分析時(shí)間,使我們前期的投資得到回報(bào)。
我們真的很滿意。
Hans-Ullrich Eckert, Development Manager Process Technology, GERWECK GMBH Oberfl?chentechnik, Bretten-G?lshausen (Germany)
LIBS-激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀
DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內(nèi)提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結(jié)構(gòu)的化學(xué)成分。
識別感興趣的微觀結(jié)構(gòu)成分,隨后只需單擊一下,即可觸發(fā) LIBS 分析。
與典型的電鏡方法*相比,節(jié)省 90% 的時(shí)間,而且
以可靠的目視和化學(xué)檢驗(yàn)材料信息為基礎(chǔ),快速做出自信的決策。
*可根據(jù)要求提供證明
為什么使用 DM6 M LIBS 解決方案進(jìn)行材料分析能節(jié)省 90% 的時(shí)間?因?yàn)檫@種解決方案:
無需樣品制備和轉(zhuǎn)移;
無需系統(tǒng)調(diào)節(jié);且
無需重新定位感興趣區(qū)域 (ROI)。
將工作流程精簡至只有一個(gè)步驟,以結(jié)果為重點(diǎn)。
關(guān)于使用 DM6 M LIBS 進(jìn)行成分分析的更多信息,請參考本應(yīng)用說明。
使用 DM6 M LIBS 解決方案的工作步驟比使用光電顯微鏡 (SEM) 進(jìn)行分析精簡 3 倍。
將多種工具組合起來分析樣品的顯微結(jié)構(gòu)成分,將在一秒鐘內(nèi)獲得所有信息,助您做出正確的決策。
在 90% 以上的情況下,用戶都能獲得足夠的數(shù)據(jù),對下一步行動做出自信的決策 (例如,是否需要使用 SEM 進(jìn)行更詳細(xì)的分析來確認(rèn)污染源)。*
*基于用戶反饋
在 LIBS 檢驗(yàn)中清晰辨別的鋁顆粒。
DM6 M LIBS 二合一系統(tǒng)與 Cleanliness Expert 分析軟件相結(jié)合,讓您僅使用一臺儀器和一個(gè)工作流程即可對過濾器上的樣品進(jìn)行目視和化學(xué)檢驗(yàn)。
這樣可以更輕松地找到污染源。
通過快速獲取顆粒成分和結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù),您將得到在分析過程中更加迅速地做出自信決策的優(yōu)勢。
在清潔度分析過程中,過濾器上的污染顆粒通過 LIBS 被確認(rèn)為鋼。
DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執(zhí)行物相的結(jié)構(gòu)和元素/化學(xué)分析,例如礦石、合金、陶瓷等。
無需進(jìn)行樣品制備,也無需在 2 個(gè)或更多設(shè)備之間進(jìn)行轉(zhuǎn)移。整個(gè)分析工作流程全部在一臺儀器上完成。
zui大程度減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的 SEM/EDS 分析,從而節(jié)省時(shí)間和資金。
硅酸鹽母巖中的含鐵相。
LIBS 的消融原理可被運(yùn)用于材料的微型打孔。
微型打孔可應(yīng)用于諸如:
深度剖面
層次分析
表面清潔。
在測定一種材料的成分是否隨著深入該材料其中的深度而改變時(shí),深度剖面非常有用。
層次分析可用于查找一種材料中每一層的成分。比如多層鍍膜或噴漆的金屬,都屬于層狀材料。
利用表面清潔可以去除氧化物和污染。
標(biāo)有直徑和深度的微型鉆孔示意圖 - 通過 LIBS 微型鉆孔的銅合金
DM6 M LIBS 解決方案運(yùn)用激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) 使定性化學(xué)分析成為可能。
單擊即可觸發(fā)分析,激光將穿透樣品上的瞄準(zhǔn)點(diǎn)。一個(gè)等離子體將會產(chǎn)生,然后分解。產(chǎn)生的特征光譜顯示材料中的元素的分布圖譜。
軟件將圖譜與已知的元素和化合物數(shù)據(jù)集進(jìn)行對比,從而確定微觀結(jié)構(gòu)的成分。數(shù)據(jù)集可以隨著用戶獲得的具體材料結(jié)果得到擴(kuò)充。
1. 激光脈沖穿透材料表面;
2. 誘導(dǎo)出一個(gè)等離子體,然后該等離子體分解,發(fā)出光線;且
3. 特征原子譜線的光譜發(fā)射使元素得以被識別出來。
在利用二合一解決方案實(shí)現(xiàn)快速的材料分析工作流程方面,顯微鏡也發(fā)揮了非常重要的作用。
在 1.25 倍至 100 倍的大物鏡變倍范圍進(jìn)行觀察;
憑借多對比度技術(shù),輕松看清色彩真實(shí)的材料細(xì)微結(jié)構(gòu);
根據(jù)需要隨時(shí)進(jìn)行分析。
您是否已經(jīng)擁有一款我們的 DM6000 M 或 DM6 M 復(fù)式顯微鏡?
如果您已經(jīng)擁有,則可以充分利用這種選擇,使用 LIBS 系統(tǒng)進(jìn)行改裝,以優(yōu)惠的價(jià)格得到二合一解決方案。
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